科威尔MX300C系列功率器件热特性测试系统
产品介绍
MX300C 系列功率器件热特性测试系统是一款自动热特性测试设备，由采样单元、温 控单元、电源单元以及控制单元等组成。用于主要用于IGBT 等电力电子器件的功率循 环测试和热特性测试，以模拟和测量电力电子器件寿命期内的表现。
产品规格表
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型号 |
MX300C-3000 |
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设备精度 |
恒温板1 |
温控精度为±0.5℃,温控范围：15~80℃ |
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恒温板2 |
稳定性±0.01℃,温控范围：-35~200℃ |
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导通压降测量精度 |
±50μV |
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结温测试精度 |
±2℃ |
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冷板及壳温测试精度 |
±2℃ |
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栅极电流检测 |
0.2nA-100uA,分辨率：25pA |
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测试容量 |
Zth/Rth/Kcurve |
每次测试1只样品 |
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秒级/分钟级功率循环 |
每次最多可测试12只样品 |
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K 曲 线 测 试 |
测试电流 |
范围0~3A,精度≤0.1%+5mA,分辨率0.1mA |
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恒温系统 |
温度范围-35～200℃,稳定性±0.01℃(依赖采购设备精度) |
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Zth/Rth 测试 |
结温测试 |
采样速度1MHz,精度2℃,分辨率0.1℃ |
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壳温测试 |
采样速度1MHz,精度2℃,分辨率0.1℃ |
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快速关断 |
样品加热电流可以1μs内去除 |
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Zthjc,Zthja测试能力 |
具备 |
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显示积分、微分 结构函数曲线 |
具备 |
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秒级功率 循环测试 |
功率电源 |
输出能力>3000A,电流精度±0.1%set+0.4%FS |
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结温测试 |
采样速度10KHz,精度2℃,分辨率0.1℃ |
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壳温测试 |
采样速度10KHz,精度2℃,分辨率0.1℃ |
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典型条件 |
0.5s |
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老化模式 |
恒电流，恒定结温Tjmax/△Tjmax,恒定功率P |
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数据记录 |
加热电流，ton,toff,Jjmax,△Tj,Tjmin, 冷媒温度Tcoolant,冷媒流量F,冷板温度THS |
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分 钟 级 功 率 循环测试 |
功率电源 |
输出能力>3000A,电流精度±0.1%set+0.4%FS |
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结温测试 |
采样速度10KHz,精度2℃,分辨率0.1℃ |
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壳温测试 |
采样速度10KHz,精度2℃,分辨率0.1℃ |
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典型条件 |
2min |
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老化模式 |
恒电流，恒定结温Tjmax/ΔTjmax,恒定功率P |
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数据记录 |
加热电流I,ton,toff,Tjmax,△Tj,Tjmin, 冷媒温度Tcoolant,冷媒流量F,冷板温度THS |
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注：1.MX300C-3000 是我司开发的其中一款设备，我司后续将开发其他电流等级的热特性测试设备。
2. 我司开发的MX300C 系列产品具备两种型号：
MX300C-3000-F1 具备功率循环、热阻(抗)测试 (Rth/Zth) 、K 曲线测试、结-壳热咀 (RJC) 、lges 测试测试功能；
MX300C-3000-F0 注重于功率循环测试，具备K 曲线导入功能，不配备恒温板2
产品特点
测试精度高精度，恒温版控制精度高，加热电流去除速度快；
'实时"结构功能诊断：可以快速获得故障进度、循环次数、故障原因等结果，自动停止测试；
操作过程中可远程监控：用户通过移动端/PC 端口远程控制试验进程；
完善的保护机制，具备过温，烟雾和冷却剂泄漏检测等多重保护；
兼容IGBT/DIODE/MOSFET/BJT/SCR功率器件测试；
设备辅控系统采用UPS 供电，断电状态仍可指示设备安全状态。
